经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度,测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
镀层膜厚测试仪* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度最薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(最小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:450mm*450mm
* 重量:32 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* 最新半导体探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
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