镀层膜厚测试仪

 
 
单价 面议对比
询价 暂无
浏览 298
发货 广东深圳市付款后3天内
过期 长期有效
更新 2014-05-05 14:08
 
联系方式
加关注0

深圳市金东霖科技有限公司

工业企业第11年
资料未认证
保证金未缴纳
详细说明
镀层膜厚测试仪 随着半导体制造技术向亚微米及深亚微米方向发展,各种精密测试设备也层出不穷。以精密设备为主的测试技术日益成为半导体制造业发展过程中的一大研发主题。在集成电路产业“十一五”专项规划中,也把测试技术作为发展重点之一,定位为适应更高要求的主流技术。膜厚测试仪作为半导体制造工艺过程中最基本、最常用的测试设备,当工艺技术发展到亚微米及深亚微米时,对它的精密度要求越来越高。
经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度,测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
镀层膜厚测试仪* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度最薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(最小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:450mm*450mm
* 重量:32 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* 最新半导体探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
联系人: 舒翠 
手机:   13602568074
电话:   0755-29371655 
传真:   0755-29371653 
邮箱:   sc@kinglinhk.net 
地址:   宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502 
举报收藏 0评论 0
更多>本企业其它产品
电镀膜厚测试仪 镀金膜厚测试仪 五金膜厚测试仪 美国膜厚测试仪 膜厚测试仪
网站首页  |  免责声明  |  关于我们  |  联系方式  |  隐私政策  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  RSS订阅  |  违规举报  |  鲁ICP备12015736号